一种测试电路结构及天线测试方法

       本申请公开了一种测试电路结构，所述测试电路结构包括：射频模块、多个天线单元、多个天线匹配电路和阻抗匹配电路，所述射频模块通过所述天线匹配电路与所述天线单元电连接，所述阻抗匹配电路与所述天线匹配电路、所述天线单元电连接，本申请实施例还公开了一种天线测试方法，能够应用于本申请实施例提供的测试电路结构；通过本申请实施例提供的测试电路结构，能够在需要对终端存在多个天线的情况下，对多个天线中的其中一天线进行调试测试的情况下，通过在无需检测的天线跟射频模块之间增加一组阻抗匹配电路，通过本申请实施例提供的阻抗匹配电路将阻抗直接接到地，能够降低调试时的误差，从而提升多个天线在调试测试的精准度。