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一种采用低温介入的半导体材料粉碎装置及方法

  • 专利号:2020116201326 类型:发明专利 浏览:15次 发布时间:2025-4-5
  •         本发明公开了一种采用低温介入的半导体材料粉碎装置及方法,包括从左到右并排设置的第一底架和第二底架,第二底架顶部的右侧设置有一次粉碎机构,第一底架内壁的底部设置有低温介入机构,第一底架内壁上方的两侧均转动连接有转轴,本发明涉及半导体材料加工技术领域。该采用低温介入的半导体材料粉碎装置及方法,通过在第二底架顶部的右侧设置一次粉碎机构,第一底架内壁的底部设置低温介入机构,利用低温介入机构中的低温箱、冷凝器、控制箱和导线,可以先行对半导体材料进行脆化处理,后续粉碎过程更加容易进行,配合一次粉碎机构进行粉碎箱内的往复碾压过程,对半导体材料的初步粉碎过程,减少粉碎时间,提升粉碎效率。